是一款主要面向“單管級器件”用戶服務的測試設備，可實現(xiàn)對Si基（選配SiC/GaN）材料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT 的多種動態(tài)參數(shù)的精確測試，測試原理符合國軍標。
測試項目包括開通時間、關斷時間、上升時間、下降時間、導通延遲時間、關斷延 遲時間、開通損耗、關斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復時間、反向恢復充電電量、反向恢復電流、反向恢復損耗、反向恢復電流變化率、反向恢復電壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉移電容、短路等等。通過更換不同個性單元（簡稱 DUT）以達到對應的測試項目，通過軟件切換可以選擇測試單元、測試項目及配置測試參數(shù)、讀取保存測試結果。系統(tǒng)集成度高，性能穩(wěn)定，具有升級擴展?jié)撃芎土己玫娜藱C交互。
