是一款主要面向“單管級(jí)器件”用戶服務(wù)的測(cè)試設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)對(duì)Si基（選配SiC/GaN）材料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT 的多種動(dòng)態(tài)參數(shù)的精確測(cè)試，測(cè)試原理符合國(guó)軍標(biāo)。

測(cè)試項(xiàng)目包括開(kāi)通時(shí)間、關(guān)斷時(shí)間、上升時(shí)間、下降時(shí)間、導(dǎo)通延遲時(shí)間、關(guān)斷延 遲時(shí)間、開(kāi)通損耗、關(guān)斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺(tái)電壓、反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù)充電電量、反向恢復(fù)電流、反向恢復(fù)損耗、反向恢復(fù)電流變化率、反向恢復(fù)電壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉(zhuǎn)移電容、短路等等。通過(guò)更換不同個(gè)性單元（簡(jiǎn)稱 DUT）以達(dá)到對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目，通過(guò)軟件切換可以選擇測(cè)試單元、測(cè)試項(xiàng)目及配置測(cè)試參數(shù)、讀取保存測(cè)試結(jié)果。系統(tǒng)集成度高，性能穩(wěn)定，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃芎土己玫娜藱C(jī)交互。